不要让漂移影响OES元素分析

漂移的原因是什么?

所有OES仪器对环境因素非常敏感,这些因素会随着时间的推移影响其读数的准确性。气压和温度的波动是造成这种漂移的主要原因。仪器在其运行环境中位置引起的震动是常见原因,尽管日立机器的设计是为了消除这一点。

和环境因素一样,部件老化、光学平面受污染或吹扫气体或真空度的变化都会误导分析结果。如果您的质量依赖于产品的确切化学成分,这些影响因素可能是一个大问题。

  


重新校准变得简单

在持续使用一段时间后,重新校准会使火花直读光谱仪恢复到最佳性能。但漂移并未得到解决,这会导致读数不准确。这其中的困难是,并无迹象表明出了什么问题。

OES随时可以使用监控样品。理想情况下,这些样品应尽可能接近您实际使用的工艺材料。

火花直读光谱仪可以执行这些操作,从而消除以一定时间间隔重新校准的需要。过去,重新校准只是按预定间隔进行。事实上,一些公司目前仍然这样做。这意味着OES性能可能会在未探测到的情况下大幅漂移。使用高质量的仪器体检记录可以跟踪你的OES的健康状况。除此之外,使用监控样品还可以验证仪器是否能够用于审核。

日立分析仪器解决方案

对于试图解决漂移的OES生产商来说,他们只有两种选择。OES生产商可以在操作环境温度和压力不变的情况下进行分析。问题是这两种方法都意味着更高的运行成本。

日立分析仪器的OES光谱仪不需要操作者拥有昂贵的材料或高的运行成本。我们设计的仪器比竞争对手更高效、更经济、更智能。

我们光学系统的总波长范围为130至800nm,这使得操作员很容易发现最初漂移的信号并纠正问题。因此,在每次分析期间,我们可自动监控和校正所有相关通道的光谱位置。只要OES本身得到良好维护,漂移就不会导致成本飙升。

日立分析拥有超过45年的金属行业经验,能够充分利用分析仪。我们的团队可以确保您的OES光谱仪继续以其设计的水平工作,并长期为您的操作增加价值。

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